電(dian)阻率(lv)和鋼筋(jin)銹(xiu)蝕(shi)測(ce)試(shi)儀(yi)

● SZ-R72混凝(ning)土(tu)電(dian)阻率(lv)和鋼筋(jin)銹(xiu)蝕(shi)測(ce)試(shi)儀(yi)用(yong)途
它(ta)具(ju)有(you)R61鋼筋(jin)銹(xiu)蝕(shi)儀(yi)和R62混凝(ning)土(tu)電(dian)阻率(lv)兩(liang)臺(tai)儀(yi)器(qi)的(de)功(gong)能，可以同(tong)時(shi)用(yong)混凝(ning)土(tu)電(dian)阻率(lv)法和半(ban)電(dian)池電(dian)位法檢(jian)測(ce)混凝(ning)土(tu)內(nei)部(bu)鋼筋(jin)的(de)銹蝕(shi)程度(du)，壹(yi)機多用(yong)，且(qie)可以兩(liang)種方法的(de)測試(shi)結(jie)果(guo)相(xiang)互(hu)驗證(zheng)，確定混凝(ning)土(tu)中(zhong)是否(fou)發生銹(xiu)蝕(shi)。

● 依據(ju)規範(fan)
1、《建築結(jie)構(gou)檢(jian)測(ce)技術標(biao)準(zhun) GB/T50344-2004》
2、《混凝(ning)土(tu)中(zhong)鋼筋(jin)檢(jian)測(ce)技術規程 JGJ/T 152-2008》
3、《公(gong)路(lu)橋(qiao)梁承載能(neng)力(li)檢(jian)測(ce)評定(ding)規程JTGT J21-2011》

● SZ-R72混凝(ning)土(tu)電(dian)阻率(lv)和鋼筋(jin)銹(xiu)蝕(shi)測(ce)試(shi)儀(yi)性(xing)能(neng)特(te)點
1、兩(liang)種測試(shi)方(fang)式(shi)混凝(ning)土(tu)內(nei)部(bu)鋼筋(jin)銹(xiu)蝕(shi)程度(du)。半(ban)電(dian)池電(dian)位法和電(dian)阻率(lv)法，適(shi)應(ying)於不(bu)同(tong)的(de)測試(shi)現(xian)場(chang)，且(qie)兩(liang)種測試(shi)結(jie)果(guo)可以相(xiang)互驗證(zheng)，進(jin)壹(yi)步確定混凝(ning)土(tu)內(nei)部(bu)銹(xiu)蝕(shi)程度(du)。
2、銹蝕測(ce)試(shi)采(cai)用(yong)永(yong)jiu性參(can)比(bi)電極。飽(bao)和(he)硫酸銅溶(rong)液密(mi)封在(zai)參比(bi)電極中(zhong)，測試(shi)前後無(wu)需更(geng)換(huan)溶(rong)液，操(cao)作過(guo)程簡潔(jie)、幹(gan)凈(jing)、，無(wu)汙染。
3、銹(xiu)蝕測試(shi)自(zi)動(dong)檢(jian)測(ce)環境(jing)溫(wen)度(du)。儀器(qi)內含(han)自(zi)動(dong)測溫(wen)模(mo)塊，可自(zi)動(dong)測試(shi)、記(ji)錄(lu)、顯示現場(chang)的(de)環境(jing)溫(wen)度(du)，無(wu)需另(ling)配溫(wen)度(du)計(ji)，方(fang)便(bian)快捷。
4、電阻率(lv)測試(shi)方(fang)式(shi)簡單(dan)。采(cai)用(yong)傳(chuan)統(tong)的(de)四電(dian)極法(Winner四極法)，海綿(mian)塞(sai)式(shi)傳感器(qi)確保良好電接觸的(de)，且(qie)無(wu)需破(po)壞或(huo)者鉆(zuan)取(qu)混凝(ning)土(tu)，在(zai)其(qi)表(biao)面(mian)即(ji)可測試(shi)；     
5、含(han)標(biao)準(zhun)塊。有(you)壹(yi)標(biao)準(zhun)試(shi)塊(kuai)以(yi)保(bao)證(zheng)測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)的(de)可靠(kao)性 ；
6、儀(yi)器(qi)可設置測(ce)試(shi)日期。數(shu)據(ju)保(bao)存測(ce)試(shi)日期，方(fang)便(bian)用(yong)戶的(de)數(shu)據(ju)管(guan)理(li)；
7、windows數(shu)據(ju)分(fen)析(xi)處理軟件(jian)。以圖(tu)形(xing)圖(tu)像（譜圖(tu)、等值線等）的(de)方式(shi)表(biao)示測試(shi)結(jie)果(guo)，可以直(zhi)接生成(cheng)Word檢(jian)測(ce)報(bao)告(gao)或(huo)將(jiang)數(shu)據(ju)導入Excel，方(fang)便(bian)快捷 

● 技術指標(biao)
電(dian)阻率(lv)技術指標(biao)
1、測(ce)量範(fan)圍(wei)     0~300 kΩcm；0~3000 kΩcm  
2、測試(shi)精(jing)度(du)   ±1 kΩcm
3、分(fen)辨率(lv) 0.1 kΩcm                   
4、液晶(jing)顯(xian)示屏 160*128

銹(xiu)蝕儀(yi)技術指標(biao)
1、測(ce)量範(fan)圍(wei)    ±2000mV                     
2、測試(shi)精(jing)度(du)  ±1mV
3、測(ce)點間距    1～99cm可設     
4、工作(zuo)環境要(yao)求    環境溫(wen)度(du)：-10℃～＋40℃, 避免(mian)長時(shi)間陽光直接爆曬(shai)；
5、相(xiang)對濕(shi)度(du)：<90%RH；          
6、電磁(ci)幹(gan)擾：無(wu)強交(jiao)變電(dian)磁(ci)場(chang)；
7、6節5號堿性(xing)電池，供(gong)電(dian)時間大(da)於(yu)30小(xiao)時

● 標(biao)準(zhun)配置
主(zhu)機(ji)
探(tan)頭
信(xin)號線
USB傳輸線
 資料(liao)袋(dai)
電(dian)池
儀(yi)器(qi)箱(xiang)